辰卓科技CZD800测试机：三大方面提升MCU类产品测试成本效益

作为国产半导体的“顶流”，国产MCU市场规模、产品规格、工艺水平都在持续提升，在芯片测试方面，如何更加经济高效的执行MCU芯片测试，也是整个产业链持续追求的目标。

辰卓科技推出的CZD800数字测试机，面向MCU、Nor Flash、ASIC等数字类芯片的CP/FT测试，从系统架构、硬件能力、软件效率等各个方面进行了专门的测试效率提升设计，能够为MCU类产品测试带来更高成本效益。

CZD800在系统设计上创新采用嵌入式主控方式，从多个维度实现了测试执行效率的提升：

ATE软件系统直接部署在嵌入式主控，与Tester之间以系统内通信方式进行交互，配合自定义的软硬件通信机制，在保障软硬件指令执行同步性与可靠性的同时，充分发挥系统内通信机制的优势，简化通信流程，极大提升了Tester软硬件交互效率。

相比外置主控方式，单指令交互时延从ms级别可提升到百ns级别。

嵌入式主控与各业务板拥有独立高速物理连接通道，配套多核多线程资源，可将具体业务执行分发至多块业务板并行执行，构建高速化并行系统。

配套CZD800的程序语言在指令设计上充分考虑并行优化，可以将并行系统能力发挥到极致，测试程序执行效率更高。

以上优化设计在实际量产中效果明显。

以一款带Nor Flash的MCU 12寸Wafer CP测试为例，128-site并测，测试分为3个CP段，CP1完成芯片MTP基础编程功能测试，CP2完成测试程序写入、核心/外设功能测试、MTP区域编程的进一步校验等，CP3完成Scan、Trimming、功耗等其他DC项测试。

与海外某同等配置机型对比，相同良率下辰卓科技CZD800数字测试机平均到每TD耗时共计27.2s（4+15.2+8），相比对比机型的32.3s（4.8+19.2+8.3），在测试效率上平均有15.7%的提升。

并测度提升是效率提升最有效的手段，CZD800通过丰富的单机资源提供高并测能力，单机可实现256-site并测

▶  数字板单板128通道，自带板级PMU、DPS资源和AWG功能，单机可达1024 IO通道

▶  Pattern向量存储空间128M行，测试速率200Mbps， Per-pin规格，无使用限制

▶  高密度DPS板单板可支持64通道，高压VI板可支持±40V 32通道，灵活搭配满足各类测试供电需求

▶  独立的16-bit AWG板可提供更丰富的大数小模测试方案

CZD800配套全自研ATE软件系统MetaATE，在指令设计、工具支持、人机交互方面均以高效、易用为设计目标：

▶ 高内聚指令简化程序开发步骤

MetaATE在程序指令的设计上充分考虑关联操作的聚合性，一条指令可完成一类相关操作，极大简化了程序开发的步骤，可以节省至少20%的程序开发时间。

接下来辰卓科技将发布CZD800升级款产品CZD800H，CZD800H面向中高端SoC芯片测试，在资源规格、测试速率方面都会有大幅提升，将会为国产中高端SoC芯片测试带来更高性价比方案。

辰卓科技秉持“持续创新，引领量测行业发展”的企业使命，在助力客户提升测试成本效益方面不懈努力，将持续推出技术行业领先、测试高效稳定的半导体测试机产品及解决方案，与行业客户合作共赢。